ストレス確率を考慮したSRAMの値反転によるNBTI劣化抑制手法

ストレス確率を考慮したSRAMの値反転によるNBTI劣化抑制手法
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考虑应力概率的SRAM值反演NBTI劣化抑制方法

DOI:
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发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
國武勇次
國武勇次
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
T.Arakawa;K.Sekiguchi;Y.Yamauchi;K.Chida;M.Yamada;H.Takahashi;D.Chiba;K.Kobayashi;T.Ono;國武勇次;國武勇次

文献摘要

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