Imaging nanometer scale defects in Langmuir-Blodgett films with the atomic force microscope
Imaging nanometer scale defects in Langmuir-Blodgett films with the atomic force microscope
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使用原子力显微镜对 Langmuir-Blodgett 薄膜中的纳米级缺陷进行成像
DOI：
10.1021/la00054a005
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发表时间：
1991
期刊：
影响因子：
3.9
通讯作者：
J. Zasadzinski
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
H. Hansma;S. Gould;P. Hansma;H. Gaub;M. Longo;J. Zasadzinski
花生酸镉等LB膜的原子力显微镜成像为LB膜的质量检测提供了一种直观、无损的新技术。
Atomic force microscope imaging of cadmium arachidate and other Langmuir Blodgett films provides a staightforward and non destructive new technique for determining the quality of Langmuir Blodgett films.