High Temperature Scanning Hall Probe Microscopy (HT-SHPM) using AlGaN/GaN 2DEG micro-Hall probes
High Temperature Scanning Hall Probe Microscopy (HT-SHPM) using AlGaN/GaN 2DEG micro-Hall probes
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使用 AlGaN/GaN 2DEG 微霍尔探针的高温扫描霍尔探针显微镜 (HT-SHPM)
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A.SANDHU
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Z.Primadani;H.Osawa;A.SANDHU
