Strain Rate Dependence of Mechanical Properties for Sub 100nm-thick Au Film Using Electrostatically Actuated Nano Tensile Testing Device
Strain Rate Dependence of Mechanical Properties for Sub 100nm-thick Au Film Using Electrostatically Actuated Nano Tensile Testing Device
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使用静电驱动纳米拉伸测试装置研究亚 100 纳米厚金膜机械性能的应变率依赖性
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hak-Joo Lee
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hyun-Jin Oh;Itsuo Hanasaki;Yoshitada Isono;Seung-Woo Han;Hak-Joo Lee
