シリコンの疲労メカニズムの描像を目的とした電子顕微鏡内疲労試験の試み
シリコンの疲労メカニズムの描像を目的とした電子顕微鏡内疲労試験の試み
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电子显微镜疲劳测试的尝试旨在说明硅的疲劳机制
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
巨陽
中科院分区：
文献类型：
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作者：
平井隆太郎;泉隼人;神谷庄司;梅原徳次;巨陽
