K.Sasagawa (M.Hasegawa, M.Yagi, M.Saka and H.Abe): "Governing Parameter for Electromigration Damage in Polycrystalline Line Covered with Passivation Film"Proc 2000 JSME Annual Meeting. Vol.II, No.00-1. 25-26 (2000)
K.Sasagawa (M.Hasegawa, M.Yagi, M.Saka and H.Abe): "Governing Parameter for Electromigration Damage in Polycrystalline Line Covered with Passivation Film"Proc 2000 JSME Annual Meeting. Vol.II, No.00-1. 25-26 (2000)
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K.笹川 (M.Hasekawa、M.Yagi、M.Saka 和 H.Abe)：“覆盖有钝化膜的多晶硅线路中电迁移损坏的控制参数”Proc 2000 JSME 年会。
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