Hot-Carrier Effects on Total Dose Irradiated 65 nm n-Type Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors
Hot-Carrier Effects on Total Dose Irradiated 65 nm n-Type Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors
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热载流子对总剂量辐照 65 nm n 型金属氧化物半导体场效应晶体管的影响
DOI：
10.1088/0256-307x/33/7/076102
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发表时间：
2016
影响因子：
3.5
通讯作者：
Guo Qi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Zheng Qi-Wen;Cui Jiang-Wei;Zhou Hang;Yu De-Zhao;Yu Xue-Feng;Guo Qi
