Theoretical Analysis of Enhancement-Mode AIGaN/GaN HEMTs

Theoretical Analysis of Enhancement-Mode AIGaN/GaN HEMTs
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增强型 AIGaN/GaN HEMT 的理论分析

DOI:
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发表时间:
2006
期刊:
International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai, Tech. Dig.
影响因子:
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通讯作者:
T.Nishida et al.
T.Nishida et al.
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
T.Inushima;M.Higashiwaki;T.Matsui;T.Takenobu;M.Motokawa;T.Inushima et al.;伊藤修一;葛原正明;M.Nagamori et al.;M.Kuzuhara;伊藤修一 他6名;高桑陽一;齋藤弘志;T.Nishida;H.Saito;Y.Takakuwa et al.;H.Saito et al.;T.Nishida et al.

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