Statistical analysis of local C-V map data for ferroelectric thin films
Statistical analysis of local C-V map data for ferroelectric thin films
复制标题
铁电薄膜局部C-V图数据统计分析
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yasuo Cho
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yoshiomi Hiranaga;Yasuo Cho
