CLマッピング測定を用いたAlGaN系半導体における支配的な非輻射再結合経路の直接観察
CLマッピング測定を用いたAlGaN系半導体における支配的な非輻射再結合経路の直接観察
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使用 CL 映射测量直接观察 AlGaN 基半导体中的主要非辐射复合路径
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
川上養一
中科院分区：
文献类型：
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作者：
市川修平;船戸充;岩崎洋介;川上養一
