Post-acquisition upsampling method for scanning x-ray microscopy
Post-acquisition upsampling method for scanning x-ray microscopy
复制标题
用于扫描 X 射线显微镜的采集后上采样方法
DOI：
10.1063/5.0098245
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发表时间：
2023
影响因子：
1.6
通讯作者：
Nakamura Tetsuya
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ohsumi Hiroyuki;Fujikawa Yoshinori;Liu Lihua;Kotani Yoshinori;Nakamura Tetsuya
