ニッケル酸化物(Ni0)/n^+-Si接合のアドミッタンス法によるNi0中の欠陥準位の検出

ニッケル酸化物(Ni0)/n^+-Si接合のアドミッタンス法によるNi0中の欠陥準位の検出
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氧化镍(Ni0)/n^+-Si结导纳法检测Ni0中的缺陷水平

DOI:
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发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
木本恒暢
木本恒暢
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
西佑介;鈴木亮太;木本恒暢

文献摘要

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