High-fidelity qubit gates and quantum error correction in silicone
High-fidelity qubit gates and quantum error correction in silicone
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高保真量子位门和硅中的量子纠错
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Seigo Tarucha
中科院分区：
文献类型：
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作者：
西村昇一郎;下村浩一郎，山崎高幸，吉田光宏，他49名;Seigo Tarucha
