Application of Small-Angle X-ray Scattering Utilizing X-ray Anomalous Dispersion to Nano-Structure Analysis
Application of Small-Angle X-ray Scattering Utilizing X-ray Anomalous Dispersion to Nano-Structure Analysis
复制标题
利用X射线反常色散的小角X射线散射在纳米结构分析中的应用
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Sugiyama
中科院分区：
文献类型：
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作者：
井上博司;金谷誠二;M.Sugiyama
