Genesis DOS試料のヘリウム・ネオン深さ方向分析
Genesis DOS試料のヘリウム・ネオン深さ方向分析
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Genesis DOS 样品的氦/氖深度分析
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
D. S. Burnett，坂口勲，鈴木拓，糸瀬悟，石原盛男， 内野喜一郎，R. Wieler，圦本尚義
中科院分区：
文献类型：
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作者：
馬上謙一，殿谷梓，C. T. Olinger;A. J. G. Jurewicz;D. S. Burnett，坂口勲，鈴木拓，糸瀬悟，石原盛男， 内野喜一郎，R. Wieler，圦本尚義
