Shiano Ono, Takuji Takahashi: "Surface Potential Imaging on InAs Low-Dimensional Nanostructures Studied by Kelvin Probe Force Microscopy"Jpn.J.Appl.Phys.. 42. 4869 (2003)
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Shiano Ono、Takuji Takahashi：“通过开尔文探针力显微镜研究的 InAs 低维纳米结构的表面电位成像”Jpn.J.Appl.Phys.. 42. 4869 (2003)
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