High-bias breakdown of Au/BDT/Au junctions
High-bias breakdown of Au/BDT/Au junctions
复制标题
Au/BDT/Au 结的高偏置击穿
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Sakai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yumi;Thramae;Makusu;Tsutsui;Shu;Kurokawa;Akira;Sakai
