抵抗ラダー型DAC内MOS短絡の電流テスト容易化設計
抵抗ラダー型DAC内MOS短絡の電流テスト容易化設計
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旨在促进电阻梯型 DAC 中 MOS 短路的电流测试
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
三浦幸也
中科院分区：
文献类型：
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作者：
橋爪正樹;秦豊;四柳浩之;三浦幸也
