Double strand break repair by capture of unintentional sequences, an emerging new risk for the leading-edge technology.
Double strand break repair by capture of unintentional sequences, an emerging new risk for the leading-edge technology.
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通过捕获无意的序列进行双链断裂修复，这是尖端技术的一个新兴风险。
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Ryuichi Ono
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Wang J;Yamada R;Ryuichi Ono
