M. Ma, T. Ogawa, M. Watanabe and M. Eguchi: "Study on defects in CZ-Si crystals gown under three different cusp magnetic fields by infrared scattering tomography"J. Cryst. Growth. 205. 50-58 (1999)
M. Ma, T. Ogawa, M. Watanabe and M. Eguchi: "Study on defects in CZ-Si crystals gown under three different cusp magnetic fields by infrared scattering tomography"J. Cryst. Growth. 205. 50-58 (1999)
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M. Ma、T. Okawa、M. Watanabe 和 M. Eguchi：“红外散射断层扫描研究三种不同尖点磁场下 CZ-Si 晶体袍的缺陷”。
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