集束イオンビーム加工を利用したBiナノワイヤー熱電変換素子の４端子測定
集束イオンビーム加工を利用したBiナノワイヤー熱電変換素子の４端子測定
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使用聚焦离子束处理的 Bi 纳米线热电转换器件的四端测量
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小峰 啓史
中科院分区：
文献类型：
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作者：
村田 正行;山本 浩也;常見 文昭;長谷川 靖洋;小峰 啓史
