T.Uchihashi et al.: "“Development of ultrahigt vacuum atomic force microscopy with frequency modulation detection and its aplication to electrostatic force measurement″" J.Vac.Sci.Technol.B.Vol.15,No.4. 1543-1546 (1997)
T.Uchihashi et al.: "“Development of ultrahigt vacuum atomic force microscopy with frequency modulation detection and its aplication to electrostatic force measurement″" J.Vac.Sci.Technol.B.Vol.15,No.4. 1543-1546 (1997)
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T. Uchihashi 等人：“具有频率调制检测功能的超真空原子力显微镜的开发及其在静电力测量中的应用””J.Vac.Sci.Technol.B.Vol.15，No.4。 (1997)
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