Interwire coupling for In(4 x 1)/Si(111) probed by surface transport
Interwire coupling for In(4 x 1)/Si(111) probed by surface transport
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通过表面传输探测 In(4 x 1)/Si(111) 的线间耦合
DOI：
10.1103/physrevb.92.085426
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发表时间：
2015
影响因子：
3.7
通讯作者：
C. Tegenkamp
中科院分区：
文献类型：
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作者：
F. Edler;I. Miccoli;S. Demuth;H. Pfnür;S. Wippermann;A. Lücke;W.G. Schmidt;C. Tegenkamp
