Enhanced scanning ion microprobe image analysis for rough surface sample as an alternative to SIMS depth profiling
Enhanced scanning ion microprobe image analysis for rough surface sample as an alternative to SIMS depth profiling
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用于粗糙表面样品的增强型扫描离子微探针图像分析，作为 SIMS 深度分析的替代方案
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
N.Ito
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Seki;H.Tamura;S.Horita;N.Ito
