Kenichi Okada: "Statistical Modeling of Device Characteristics with Systematic Fluctuation"Proc. IEEE International Symposium on Circuits and systems. Vol.II. 437-440 (2000)
Kenichi Okada: "Statistical Modeling of Device Characteristics with Systematic Fluctuation"Proc. IEEE International Symposium on Circuits and systems. Vol.II. 437-440 (2000)
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Kenichi Okada：“具有系统波动的器件特性的统计建模”Proc。
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