B.Tomiyasu, M.Owari and Y.Nihei: "Highly reliable quantitative analysis with Ga-FIB SIMS measurement by simultaneous multi-element detection system"Proceeding of international union of microbeam analysis societies IUMAS 2000. 345-346 (2000)
B.Tomiyasu, M.Owari and Y.Nihei: "Highly reliable quantitative analysis with Ga-FIB SIMS measurement by simultaneous multi-element detection system"Proceeding of international union of microbeam analysis societies IUMAS 2000. 345-346 (2000)
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B.Tomiyasu、M.Owari 和 Y.Nihei：“通过同步多元素检测系统使用 Ga-FIB SIMS 测量进行高度可靠的定量分析”国际微束分析学会联合会 IUMAS 会议记录 2000. 345-346 (2000)
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