Defect Imaging from a Remote Distance by Using Scanning Laser Source Technique with Acoustic Microphones

Defect Imaging from a Remote Distance by Using Scanning Laser Source Technique with Acoustic Microphones
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使用扫描激光源技术和声学麦克风进行远距离缺陷成像

DOI:
10.2320/matertrans.m2017326
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发表时间:
2018
影响因子:
1.2
通讯作者:
Hayashi Takahiro
Hayashi Takahiro
中科院分区:
材料科学4区
文献类型:
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作者:
Maeda Atsuya;Hayashi Takahiro

文献摘要

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