Failure mechanism and reliability test method for USB interface circuitry on CPUs for mobile devices
Failure mechanism and reliability test method for USB interface circuitry on CPUs for mobile devices
复制标题
移动设备CPU上USB接口电路的失效机理及可靠性测试方法
DOI：
10.1016/j.microrel.2012.07.017
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Jae
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Jae
