クローンメトリクスを用いた fault-prone モジュール判別の追実験
クローンメトリクスを用いた fault-prone モジュール判別の追実験
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使用克隆指标识别易出错模块的附加实验
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
亀井靖高
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Taiji Okano;Kenji Miyakawa;岡野太治;岡野太治;岡野太治;岡野太治;亀井靖高
