Power-constrained testing of VLSI circuits
Power-constrained testing of VLSI circuits
复制标题
VLSI 电路的功率受限测试
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
B. Al
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N. Nicolici;B. Al
本书是第一本涵盖功率受限测试解决方案所有方面的书。它反映了作者自己的研究以及对该领域主要贡献的调查。
This book is the first book that covers all asopects of power-constrained test solutions. It is a reflection of authors own research and also survey of the major contributions in this domain.