A.J.HOWARD, Y.HAYAKAWA, T.J.ANDERSON et al.: "Application of the Point-defect Analysis Technique to Zinc Doping of MOCVD Indium Phosphide"Semicond.Sci.Technol. 18. 723-728 (2003)
A.J.HOWARD, Y.HAYAKAWA, T.J.ANDERSON et al.: "Application of the Point-defect Analysis Technique to Zinc Doping of MOCVD Indium Phosphide"Semicond.Sci.Technol. 18. 723-728 (2003)
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A.J.HOWARD、Y.HAYAKAWA、T.J.ANDERSON 等人：“点缺陷分析技术在 MOCVD 磷化铟锌掺杂中的应用”Semicond.Sci.Technol。
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