橋本清司: "電子デバイス用薄膜のヤング率測定用精密3点曲げ試験装置の開発と測定例" 材料. 43巻489号. 703-709 (1994)
橋本清司: "電子デバイス用薄膜のヤング率測定用精密3点曲げ試験装置の開発と測定例" 材料. 43巻489号. 703-709 (1994)
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Seiji Hashimoto：“用于测量电子器件薄膜杨氏模量的精密三点弯曲测试装置的开发和测量示例”材料，第 43 卷，第 489 期。703-709 (1994)
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