Statistical Observations of NBTI-Induced Threshold Voltage Shifts on Small Channel-Area Devices
Statistical Observations of NBTI-Induced Threshold Voltage Shifts on Small Channel-Area Devices
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小沟道面积器件上 NBTI 引起的阈值电压偏移的统计观察
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hiroyuki Ochi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takashi Sato;Hiromitsu Awano;Hirofumi Shimizu;Hiroshi Tsutsui;Hiroyuki Ochi
