Microscopic Four-Point Atomic Force Microscope Probe Technique for Local Electrical Conductivity Measurement
Microscopic Four-Point Atomic Force Microscope Probe Technique for Local Electrical Conductivity Measurement
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用于局部电导率测量的显微四点原子力显微镜探针技术
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Ju (B. -F. Ju and M. Saka)
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Ju(Y. Hirosawa;H. Soyama and M. Saka);Y. Ju (B. -F. Ju and M. Saka)
