Electric Field Effects on Few-Layer WSe2/SiO2 Investigated by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
Electric Field Effects on Few-Layer WSe2/SiO2 Investigated by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
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通过扫描非线性介电显微镜研究电场对少层 WSe2/SiO2 的影响
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Toshiro Kaneko and Yasuo Cho
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kohei Yamasue;Toshiaki Kato;Toshiro Kaneko and Yasuo Cho
