Development of Flaw Visualization Technique at Near Field of Phased Array Probe
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复制标题
相控阵探头近场缺陷可视化技术的发展
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hirotsugu INOUE
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yu KUROKAWA;Hirotsugu INOUE
