A newly developed chemical bevelling technique used for depth independent high depth resolution SIMS analysis
A newly developed chemical bevelling technique used for depth independent high depth resolution SIMS analysis
复制标题
新开发的化学斜切技术，用于与深度无关的高深度分辨率 SIMS 分析
DOI：
10.1016/0168-583x(95)00493-9
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发表时间：
1995
影响因子：
1.3
通讯作者：
D. Mcphail
中科院分区：
文献类型：
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作者：
C. Hsu;D. Mcphail
