Diamond nanoprobes for electrical probing of nanoelectronics device structures
Diamond nanoprobes for electrical probing of nanoelectronics device structures
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用于纳米电子器件结构电探测的金刚石纳米探针
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
W. Vandervorst
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Hantschel;T. Clarysse;A. Ajaykumar;F. Seidel;M. Tsigkourakos;T. Nuytten;K. Paredis;P. Eyben;B. Majeed;D. Tezcan;W. Vandervorst
