High-resolution Imaging with X-ray Microscope

High-resolution Imaging with X-ray Microscope
复制标题

使用 X 射线显微镜进行高分辨率成像

DOI：
--
复制
发表时间：
2005
期刊：
Proceeding of 35^<th> Meeting on Lightwave Sensing Technology
影响因子：
--
通讯作者：
M.Hoshino
M.Hoshino
中科院分区：
--
文献类型：
--
作者：
S.Aoki;M.Hoshino

文献摘要

相似文献