マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法

マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法
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使用多周期捕获测试生成的面向低功耗的转换故障测试生成方法

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发表时间:
2014
期刊:
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通讯作者:
山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典(日大)・吉村正義(九大)・山崎浩二(明大)
山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典(日大)・吉村正義(九大)・山崎浩二(明大)
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Yanagihara;H.;Wakaki;H. & Fujikoshi;Y.;塩雅史;田中まりか・山崎紘史・細川利典(日大)・吉村正義(九大)・新井雅之(日大);山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典(日大)・吉村正義(九大)・山崎浩二(明大)

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