Measurement of Distance-dependent Multiple Upsets of Flip-Flops in 65nm CMOS Process
Measurement of Distance-dependent Multiple Upsets of Flip-Flops in 65nm CMOS Process
复制标题
65nm CMOS 工艺中触发器与距离相关的多次翻转的测量
DOI：
--
复制
发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Hidetoshi Onodera
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Jun Furuta;Kazutoshi Kobayashi;Hidetoshi Onodera
