Rs measurement of HTS films in millimeter wave region using dielectric resonator method
Rs measurement of HTS films in millimeter wave region using dielectric resonator method
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利用介质谐振器法测量毫米波区高温超导薄膜的 Rs
DOI：
10.1016/s0921-4534(03)01023-2
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发表时间：
2003
影响因子：
1.7
通讯作者：
M. Mukaida
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Kusunoki;M. Inadomaru;Daisuke Kousaka;S. Ohshima;K. Aizawa;M. Mukaida
