M.D.Bowden,Y.Goto,P.J.A.Howarth,K.Uchino and K.Muraoka: "A Thomson scattering diagnostics system for measurement of electron properties of processing plasmas"Plasma Sources,Science and Technology. 8・2. 203-204 (1999)
M.D.Bowden,Y.Goto,P.J.A.Howarth,K.Uchino and K.Muraoka: "A Thomson scattering diagnostics system for measurement of electron properties of processing plasmas"Plasma Sources,Science and Technology. 8・2. 203-204 (1999)
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M.D. Bowden、Y. Goto、P.J.A. Howarth、K. Uchino 和 K. Muraoka：“用于测量处理等离子体的电子特性的汤姆森散射诊断系统”，《等离子体源》，《科学与技术》203-204。
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