2枚のスペックルパターンのみを用いた高分解能電子スペックル計測法

2枚のスペックルパターンのみを用いた高分解能電子スペックル計測法
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仅使用两个散斑图案的高分辨率电子散斑测量方法

DOI:
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发表时间:
2012
期刊:
光学
影响因子:
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通讯作者:
新井泰彦
新井泰彦
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
森脇健、村山嘉延;ら;新井泰彦

文献摘要

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