Processing and recombination lifetime characterization of silicon microstrip detectors
Processing and recombination lifetime characterization of silicon microstrip detectors
复制标题
硅微带探测器的加工和复合寿命表征
DOI：
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发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Kallijärvi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Härkönen;E. Tuominen;K. Lassila;M. Palokangas;M. Yli;V. Ovchinnikov;P. Heikkila;L. Palmu;S. Kallijärvi
