日下正宏, 瀬尾健二, 木村真晃, 大坪健二: "超音波顕微鏡による電子デバイスの応力評価のための基礎的研究"Proc. of 8th Symposium on Microjoining and Assembly Technology in Electronics. Vol.8. 515-520 (2002)

Masahiro Kusaka、Kenji Seo、Masaaki Kimura、Kenji Otsubo：“使用超声波显微镜进行电子器件应力评估的基础研究”第八届电子微连接和组装技术研讨会论文集（2002 年）。