Using compound kinoform hard-x-ray lenses to exceed the critical angle limit.
Using compound kinoform hard-x-ray lenses to exceed the critical angle limit.
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DOI：
10.1103/physrevlett.99.134801
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发表时间：
2007-09
影响因子：
8.6
通讯作者：
K. Evans-Lutterodt;A. Stein;J. Ablett;N. Božović;A. Taylor;D. Tennant
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Evans-Lutterodt;A. Stein;J. Ablett;N. Božović;A. Taylor;D. Tennant
我们制作并测试了一种复合透镜，该复合透镜由四个相形透镜阵列组成，用于测量11.3 keV的硬x射线光子。我们的数据表明，在保留透镜功能的同时，使用多个透镜可以超过临界角限制，这为纳米级及以下分辨率的硬x射线光子的实用聚焦光学提供了一条途径。
We have fabricated and tested a compound lens consisting of an array of four kinoform lenses for hard x-ray photons of 11.3 keV. Our data demonstrate that it is possible to exceed the critical angle limit by using multiple lenses, while retaining lens function, and this suggests a route to practical focusing optics for hard x-ray photons with nanometer scale resolution and below.