H.Tomiye: "Scanning capacitance microscope study of SiO_2/Si interface modified by change injection" Applied Physics A. (印刷中). (1998)
H.Tomiye: "Scanning capacitance microscope study of SiO_2/Si interface modified by change injection" Applied Physics A. (印刷中). (1998)
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H. Tomiye：“通过变化注入改性的 SiO_2/Si 界面的扫描电容显微镜研究”Applied Chemistry A.（出版中）。
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