Electrostatic-lenses position-sensitive TOF MCP detector for beam diagnostics and new scheme for mass measurements at HIAF
Electrostatic-lenses position-sensitive TOF MCP detector for beam diagnostics and new scheme for mass measurements at HIAF
复制标题
用于光束诊断的静电透镜位置敏感 TOF MCP 探测器和 HIAF 质量测量的新方案
DOI：
10.1007/s41365-019-0676-1
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发表时间：
2019-09
影响因子：
2.8
通讯作者：
Wu Bo
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Liu Jun Hao;Ge Zhuang;Wang Qian;Wang Geng;Sheng Li Na;Ge Wen Wen;Xu Xing;Shuai Peng;Zeng Qi;Wu Bo
设计并模拟了一种用于下一代重离子束流诊断和质量测量的箔-微通道板（MCP）探测器，该探测器采用静电透镜，具有良好的位置和时间分辨率
A foil–microchannel plate (MCP) detector, which uses electrostatic lenses and possesses both good position and timing resolutions, has been designed and simulated for beam diagnostics and mass measurements at the next-generation heavy-ion-beam facility HI
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DOI：
10.1016/0168-583x(90)90195-z
发表时间：
1990-03
影响因子：
1.3
作者：
H. Rothard;K. Kroneberger;M. Schosnig;P. Lorenzen;E. Veje;N. Keller;R. Maier;J. Kemmler;C. Biedermann;A. Albert;O. Heil;K. Groeneveld
通讯作者：
H. Rothard;K. Kroneberger;M. Schosnig;P. Lorenzen;E. Veje;N. Keller;R. Maier;J. Kemmler;C. Biedermann;A. Albert;O. Heil;K. Groeneveld
影响因子：
1.8
作者：
Z. Meisel;S. George
通讯作者：
Z. Meisel;S. George
HIAF：高电荷重离子原子物理学的新机遇
DOI：
10.1016/j.nimb.2017.03.129
发表时间：
2017-10
期刊：
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
影响因子：
--
作者：
Ma X.;Wen W. Q.;Zhang S. F.;Yu D. Y.;Cheng R.;Yang J.;Huang Z. K.;Wang H. B.;Zhu X. L.;Cai X.;Zhao Y. T.;Mao L. J.;Yang J. C.;Zhou X. H.;Xu H. S.;Yuan Y. J.;Xia J. W.;Zhao H. W.;Xiao G. Q.;Zhan W. L.
通讯作者：
Zhan W. L.
DOI：
10.1016/0168-9002(85)90390-0
发表时间：
1985-10
影响因子：
1.4
作者：
J. Wouters;D. Vieira;H. Wollnik;H. Enge;S. Kowalski;K. Brown
通讯作者：
J. Wouters;D. Vieira;H. Wollnik;H. Enge;S. Kowalski;K. Brown
DOI：
10.1016/s0168-9002(02)00475-8
发表时间：
2002-08
影响因子：
1.4
作者：
J. Xia;W. Zhan;B. Wei;Youjin Yuan;M. Song;W. Zhang;X. Yang;P. Yuan;D. Gao;H. Zhao-H.-Zh
通讯作者：
J. Xia;W. Zhan;B. Wei;Youjin Yuan;M. Song;W. Zhang;X. Yang;P. Yuan;D. Gao;H. Zhao-H.-Zh