Defects and faults in QCA-based PLAs
Defects and faults in QCA-based PLAs
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DOI：
10.1145/1543438.1543441
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发表时间：
2009-07
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Crocker;X. Hu;M. Niemier
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Crocker;X. Hu;M. Niemier
缺陷容限在任何具有纳米级特征尺寸的系统中都是至关重要的。本文研究了基于量子点元胞自动机（QCA）的可重构系统的缺陷容限的一些基本方面。我们分析了一种新的，基于QCA的，可编程逻辑阵列（PLA）的结构，开发了一个独立的实现故障模型，并讨论了预期的缺陷和故障可能会影响产量。在这种情况下，我们介绍了技术映射到一个有缺陷的QCA为基础的PLA布尔逻辑功能。仿真结果表明，我们的新映射技术可以实现更高的产量比现有的技术。
Defect tolerance will be critical in any system with nanoscale feature sizes. This article examines some fundamental aspects of defect tolerance for a reconfigurable system based on Quantum-dot Cellular Automata (QCA). We analyze a novel, QCA-based, Programmable Logic Array (PLA) structure, develop an implementation independent fault model, and discuss how expected defects and faults might affect yield. Within this context, we introduce techniques for mapping Boolean logic functions to a defective QCA-based PLA. Simulation results show that our new mapping techniques can achieve higher yields than existing techniques.